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測試針 標簽 新聞 第 1 頁


爱德万测试针对新一代NAND快闪记忆体预烧测试机

     半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest)推出最新一代B6700系列记忆体预烧测试机的两组机种。B6700L和B6700S型号机种不但可降低测试成本,同时提高了伺服务器和行动数据储存应用环境


         






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